V Kongres Metrologii: zapowiedź

W dniach od 6 do 8 września 2010 roku w Łodzi odbędzie się V Kongres Metrologii.

Naukowcy z całej Polski spotkają się na terenie Politechniki Łódzkiej, aby omówić problemy związane z technikami pomiaru i analizą danych pomiarowych.

W tym roku organizacją zajmują się Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej PAN, pod przewodnictwem prof. Krzysztofa Pacholskiego, oraz jednostki organizacyjne Politechniki Łódzkiej:
  • Instytut Elektrotechniki Teoretycznej, Metrologii i Materiałoznawstwa,
  • Instytut Maszyn Przepływowych
  • Katedra Automatyzacji Procesów Włókienniczych

Poprzedni Kongres odbył się w Krakowie w dniach 9-13 września 2007, pod hasłem "Metrologia – narzędzie poznania i droga rozwoju". Organizowali go pracownicy Katedry Metrologii Akademii Górniczo-Hutniczej w Krakowie[1]. Rezultaty spotkania opublikowano w książce „Metrologia - narzędzie poznania i rozwoju”[2].

Przypisy

  1. http://www.gum.gov.pl/pl/site/px_Biuletyn_SNM_1_kat.pdf
  2. http://galaxy.uci.agh.edu.pl/~zmetr/zam_km2007.html

Źródła

  • http://matel.p.lodz.pl/wee/i12/km2010.pdf
  • http://www.km2010.lodz.pl/KomitetOrganizacyjny.aspx


Autorzy, Źródło: Wikinews na licencji CC-BY 2.5
2010-09-06 00:00:00